磁測(ce)法測(ce)試殘余應力原理(li)

眾所周(zhou)知，結構構件在制造(zao)過(guo)程(cheng)中(zhong)留(liu)下的(de)殘余應力是產(chan)生(sheng)變形(xing)和(he)開裂(lie)的(de)等工藝缺陷的(de)原因(yin)，準(zhun)確(que)測(ce)定(ding)出(chu)構件的(de)殘余應力顯(xian)得(de)十分重要(yao)。殘(can)余應力測(ce)試方(fang)法有(you)無損(sun)和(he)有(you)損之(zhi)分，磁(ci)性測(ce)定(ding)法屬於無(wu)損檢測(ce)，受到(dao)許多(duo)客(ke)戶的(de)青睞(lai)。

殘余應力的(de)磁性(xing)測(ce)定(ding)法是利(li)用(yong)鐵(tie)磁(ci)物質的(de)磁致(zhi)伸(shen)縮(suo)效應進行(xing)測(ce)定(ding)的(de)。在無(wu)應(ying)力狀(zhuang)態(tai)下，鐵(tie)磁(ci)體(ti)可視(shi)為(wei)磁各向同性(xing)體(ti)；當有(you)應力(li)存在時(shi)，鐵(tie)磁(ci)體(ti)各個方(fang)向的(de)磁導率(lv)是不(bu)相同的(de)，即產(chan)生(sheng)了磁各向異(yi)性，磁(ci)導率(lv)是應(ying)力(li)狀態(tai)的(de)函數。磁性法就(jiu)是通過(guo)測(ce)定(ding)磁導率(lv)的(de)變化(hua)來反映(ying)應(ying)力狀態(tai)變化(hua)的(de)。

測(ce)定(ding)磁導率(lv)變化(hua)的(de)傳感(gan)器(qi)又(you)叫探(tan)頭，通常(chang)采(cai)用(yong)阻流圈(quan)式(shi)。探(tan)頭用(yong)高(gao)磁(ci)導率(lv)的(de)材料(liao)做(zuo)成∩型(xing)，再繞上(shang)線(xian)圈(quan)而(er)成。線(xian)圈(quan)通過(guo)電(dian)流產(chan)生(sheng)磁場(chang)，此時探頭與(yu)被(bei)測(ce)物體(ti)之(zhi)間(jian)形(xing)成壹(yi)閉(bi)合(he)回路。

當被測(ce)物上(shang)受有(you)載荷而應(ying)力(li)狀態(tai)改變(bian)時，磁導率(lv)亦變化(hua)，進而(er)引(yin)起磁阻(zu)發(fa)生(sheng)改變(bian)。通過(guo)傳感(gan)器(qi)可(ke)將應(ying)力(li)的(de)變化(hua)轉換為(wei)磁阻的(de)改變(bian)。測(ce)量電(dian)橋中(zhong)產(chan)生(sheng)的(de)不(bu)平(ping)衡(heng)電(dian)流與(yu)被測(ce)物中(zhong)應(ying)力(li)變化(hua)相對應，測(ce)出(chu)不(bu)均(jun)衡(heng)電(dian)流，可(ke)以求(qiu)出(chu)被測(ce)物由(you)載荷所產(chan)生(sheng)的(de)應力(li)大(da)小(xiao)值(zhi)。

磁測(ce)法是利(li)用(yong)鐵(tie)磁(ci)材料(liao)的(de)磁致(zhi)伸(shen)縮(suo)效應來測(ce)定(ding)殘余應力的(de)無損(sun)檢測(ce)方(fang)法，它(ta)具(ju)有(you)無損(sun)、快速、方(fang)便(bian)等優點。研究(jiu)者(zhe)已經經過(guo)實例(li)驗證(zheng)磁(ci)測(ce)法的(de)可行(xing)性(xing)與(yu)實用性(xing)，磁測(ce)法測(ce)定(ding)殘余應力應(ying)用(yong)前(qian)景(jing)廣(guang)闊(kuo)。

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