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盲孔法測殘(can)余(yu)應(ying)力(li)於1934年(nian)被德(de)國(guo)提(ti)出(chu),經(jing)過長(chang)期改進(jin)和(he)完(wan)善(shan),目(mu)前是應(ying)用廣(guang)泛(fan)的殘(can)余(yu)應(ying)力(li)測量(liang)方法之壹(yi)。
相(xiang)關標(biao)準(zhun)
目前國(guo)內(nei)應(ying)用*多(duo)的(de)是(shi)GB/T 31310-2014金(jin)屬材(cai)料(liao)殘(can)余(yu)應(ying)力(li)測定(ding)鉆(zuan)孔應(ying)變(bian)法,是於2014年(nian)發布(bu)的(de),該(gai)標準(zhun)裏面描述(shu)了兩(liang)種不同(tong)的(de)鉆(zuan)孔方法測定(ding)殘(can)余(yu)應(ying)力(li):
方法 A:高速(su)鉆(zuan)殘(can)余(yu)應(ying)力(li)測量(liang)方法
方法 B:低(di)速(su)鈷殘(can)余(yu)應(ying)力(li)測量(liang)方法
盲孔法測殘(can)余(yu)應(ying)力(li)工作原理
盲孔法測殘(can)余(yu)應(ying)力(li)是(shi)指在(zai)有殘(can)余(yu)應(ying)力(li)的(de)部位(wei)鉆(zuan)壹(yi)個小孔,因小孔附(fu)近(jin)的殘(can)余(yu)應(ying)力(li)被(bei)釋放(fang),孔區附(fu)近(jin)的(de)殘(can)余(yu)應(ying)力(li)場發生變(bian)化(hua),只(zhi)要(yao)測出該(gai)局部(bu)區域(yu)的應(ying)變(bian)變(bian)化(hua)量(liang),即(ji)可(ke)計算(suan)出(chu)鉆(zuan)孔處(chu)釋(shi)放(fang)前的殘(can)余(yu)應(ying)力(li)值(zhi)。
盲孔法測殘(can)余(yu)應(ying)力(li)操(cao)作步(bu)驟(zhou)
以JH-30殘(can)余(yu)應(ying)力(li)檢(jian)測儀(yi)為例
1.選(xuan)擇測點(dian)位(wei)置
測點(dian)需要(yao)甲方提(ti)供(gong),可(ke)根據以往(wang)的(de)經(jing)驗(yan),判(pan)斷哪個(ge)部(bu)位(wei)容易斷裂(lie)。或者咨詢產品(pin)設計(ji)師哪些部分是受(shou)力(li)大的(de)部位(wei)。如(ru)果不(bu)知道(dao)如(ru)何選(xuan)擇可(ke)將產品(pin)圖紙(zhi)發給(gei)我(wo)們(men)技(ji)術,他(ta)會(hui)給妳(ni)相(xiang)應(ying)建(jian)議(yi)。
2.貼(tie)片連線(xian)
將應(ying)變(bian)花用膠(jiao)水(shui)粘(zhan)貼(tie)在(zai)待(dai)測部位(wei),放(fang)置JHZK精密殘(can)余(yu)應(ying)力(li)打(da)孔裝(zhuang)置,並將JHZK上的測量(liang)線(xian)纜與(yu)對應(ying)的(de)應(ying)變(bian)花的(de)引(yin)線(xian)焊接。
3.連接測試(shi)儀(yi)、開(kai)機
把(ba)JHZK上的測量(liang)電(dian)纜(lan)航(hang)空插頭(tou)與殘(can)余(yu)應(ying)力(li)檢(jian)測儀(yi)屏蔽(bi)線(xian)航(hang)空插座(zuo)相(xiang)連接,並旋緊;開機(ji)啟動(dong)殘(can)余(yu)應(ying)力(li)檢(jian)測儀(yi)。
4.鉆(zuan)孔
根據被測試(shi)材(cai)料(liao)、應(ying)變(bian)花的(de)種(zhong)類,設置相(xiang)關參數(shu),預(yu)熱、清(qing)零、打(da)孔。
5.讀數(shu)
打(da)孔完(wan)畢,數(shu)據完(wan)全(quan)穩(wen)定(ding)後(hou)按(an)打(da)印(yin),即(ji)可(ke)獲得打(da)孔處(chu)的(de)殘(can)余(yu)應(ying)力(li)值(zhi)。
盲孔法測殘(can)余(yu)應(ying)力(li)優(you)點(dian)
1. 其(qi)打(da)孔直(zhi)徑(jing)小,對(dui)材(cai)料(liao)破(po)壞性較小,可(ke)以測量(liang)較小範(fan)圍(wei)內的應(ying)力(li),並且應(ying)用廣(guang)泛(fan),適(shi)用於金(jin)屬和非金(jin)屬材(cai)料(liao)。
2. 儀(yi)器(qi)操(cao)作簡(jian)單,聚(ju)航(hang)科技(ji)提供(gong)上門培(pei)訓服務(wu),提供(gong)實(shi)用說(shuo)明及視(shi)頻(pin),不用擔(dan)心(xin)儀(yi)器(qi)操(cao)作問(wen)題。
3. 成本低(di),性(xing)價比高。相(xiang)對比(bi)與x射(she)線(xian)、磁測法而言,儀(yi)器(qi)價格低(di),且(qie)使用環(huan)境(jing)沒(mei)有要(yao)求(qiu),可(ke)用於野外(wai)現(xian)場測試(shi)。
應(ying)用範(fan)圍(wei)
1. 可(ke)用於金(jin)屬和非金(jin)屬材(cai)料(liao)殘(can)余(yu)應(ying)力(li)檢(jian)測。比如(ru):鑄(zhu)鋁(lv)件、鋼(gang)鐵(tie)、復(fu)合(he)材(cai)料(liao)、註(zhu)塑(su)件等。
2. 對零件(jian)形(xing)狀大小(xiao)和表面沒(mei)有特別(bie)要(yao)求(qiu),硬(ying)度(du)低(di)於40,厚度(du)大於0.5mm的都(dou)可(ke)以檢(jian)測。
3. 適(shi)用於各(ge)種(zhong)環(huan)境(jing)下工程(cheng)和工廠使用。環(huan)境(jing)差(cha)的(de)野外(wai)、郊(jiao)區,要(yao)求(qiu)較高的(de)實(shi)驗室、科(ke)研院(yuan)所均有相(xiang)應(ying)的(de)儀(yi)器(qi)選(xuan)擇。